Методи діагностики та аналізу мікро- і наносистем: навчальний посібник
Читати фрагмент
Моментальне завантаження
після оплати (24/7)
Широкий вибір форматів
(для всіх пристроїв)
Повна версія книги
(в т.ч. для Apple та Android)
Цей навчальний посібник розрахований на студентів фізико-математичного факультету, спеціальності: 210600 — Нанотехнології; 210100 — Електроніка та наноелектроніка. Його рекомендують як додатковий матеріал до курсу лекцій з дисципліни «Методи діагностики та аналізу наносистем». Вивчення цієї дисципліни спрямоване на ознайомлення з актуальними задачами діагностики наноматеріалів і систем. У книзі розглядаються питання: основи скануючої тунельної мікроскопії, спектроскопії поверхні, фізичні основи атомно-силової мікроскопії; властивості поверхні в атомно-силовій мікроскопії, контактні й напівконтактні методи дослідження поверхні, метод фазового контрасту, вимірювання розподілу магнітних і електричних полів, нанооптика та мікроскопія ближнього поля.
LF/431514090/R
Характеристики
- ФІО Автора
- Лачинов А.Н.
- Мова
- Російська
- ISBN
- 9785879788174
- Дата виходу
- 2013
14 книг цього ж автора
Товари з цієї категорії:
Цей навчальний посібник розрахований на студентів фізико-математичного факультету, спеціальності: 210600 — Нанотехнології; 210100 — Електроніка та наноелектр...