Методи діагностики та аналізу мікро- і наносистем: навчальний посібник
Читати фрагмент
Моментальне завантаження
після оплати (24/7)
Широкий вибір форматів
(для всіх пристроїв)
Повна версія книги
(в т.ч. для Apple та Android)
Цей навчальний посібник розрахований на студентів фізико-математичного факультету, що навчаються за напрямами: 210600 — Нанотехнології та 210100 — Електроніка і наноелектроніка. Його рекомендується використовувати як додатковий матеріал до лекційного курсу з дисципліни «Методи діагностики та аналізу наносистем». Мета вивчення цієї дисципліни — ознайомити студентів із актуальними задачами діагностики наноматеріалів і систем. У посібнику розглядаються питання: основи скануючої тунельної мікроскопії, спектроскопія поверхні, фізичні засади атомно-силової мікроскопії; властивості поверхні в атомно-силовій мікроскопії, контактні та напівконтактні методи дослідження поверхні, метод фазового контрасту, вимірювання розподілу магнітних і електричних полів, нанооптика та мікроскопія ближнього поля.
LF/347789399/R
Характеристики
- ФІО Автора
- Гадиев Р.М.
Лачинов А.Н.
Рец.: Асфандиаров Н.Л. - Мова
- Російська
- ISBN
- 9785879788174
- Дата виходу
- 2013
14 книг цього ж автора
Товари з цієї категорії:
Цей навчальний посібник розрахований на студентів фізико-математичного факультету, що навчаються за напрямами: 210600 — Нанотехнології та 210100 — Електронік...