Методы диагностики и анализа микро- и наносистем: учеб. Пособие
Читать фрагмент
Моментальное скачивание
после оплаты (24/7)
Широкий выбор форматов
(для всех устройств)
Полная версия книги
(в т.ч. для Apple и Android)
Данное учебное пособие предназначено для студентов физико-математического факультета, направлений подготовки: 210600 Нанотехнология; 210100 Электроника и наноэлектроника. Рекомендуется в качестве дополнительного материала к курсу лекций по дисциплине «Методы диагностики и анализа микро- инаносистем». Изучение данной дисциплины направлено на ознакомление с кругом актуальных задач диагностики наноматериалов и систем. Рассматриваются вопросы: основы сканирующей туннельной микроскопии, спектроскопия поверхности, физические основы атомно-силовой микроскопии; свойства поверхности в атомно-силовой микроскопии, контактный и полуконтактный методы исследования поверхности, метод фазового контраста, измерение распределения магнитных и электрических полей, нанооптика и микроскопия ближнего поля
LF/347789399/R
Характеристики
- ФИО Автора
- Гадиев Р.М.
Лачинов А.Н.
Рец.: Асфандиаров Н.Л. - Язык
- Русский
- ISBN
- 9785879788174
- Дата выхода
- 2013
14 книг этого же автора
Товары из этой категории:
Данное учебное пособие предназначено для студентов физико-математического факультета, направлений подготовки: 210600 Нанотехнология; 210100 Электроника и нан...