Вимірювання параметрів та випробування напівпровідникових приладів

Вимірювання параметрів та випробування напівпровідникових приладів

book type
0 Відгук(ів) 
LF/829209222/R
Російська
В наявності
157,50 грн
141,75 грн Збережіть 10%
  Моментальне завантаження 

після оплати (24/7)

  Широкий вибір форматів 

(для всіх пристроїв)

  Повна версія книги 

(в т.ч. для Apple та Android)

Книга «Вимірювання параметрів і випробування напівпровідникових приладів», створена колективом авторів, є унікальним дослідженням, яке занурює читача у світ напівпровідникової електроніки. Це видання стане незамінним помічником для студентів, аспірантів, інженерів і всіх, хто цікавиться сучасними технологіями та їхнім практичним застосуванням. У книзі розглядаються ключові аспекти вимірювання параметрів напівпровідникових приладів — таких як діоди, транзистори й інтегральні схеми. Автори приділяють особливу увагу методам випробувань, що дозволяють оцінити характеристики цих пристроїв у різних умовах. Читач дізнається про принципи роботи напівпровідників, їх фізичні властивості та про те, як ці знання застосовуються у реальних задачах. Однією з головних тем книги є важливість точності вимірювань і випробувань у розробці та виробництві напівпровідникових приладів. У швидкозмінному світі технологій, де кожна деталь має значення, вміння правильно проводити випробування стає критично важливим. Автори діляться не лише теоретичними основами, а й практичними рекомендаціями, що допоможуть уникнути поширених помилок і підвищити якість роботи з напівпровідниками. Ця книга буде цікавою як студентам технічних спеціальностей, так і досвідченим фахівцям у галузі електроніки та мікроелектроніки. Якщо ви вивчаєте фізику, електротехніку або радіотехніку, вона стане чудовим доповненням до ваших навчальних матеріалів. Інженери та дослідники знайдуть тут багато корисних порад і методик, які можна застосовувати у повсякденній практиці. Стиль авторів відзначається ясністю й доступністю викладу, що дозволяє легко засвоїти навіть найскладніші концепції. Книга наповнена ілюстраціями, графіками й прикладами, що робить матеріал більш наглядним і зрозумілим. Це особливо важливо для технічної літератури, де візуалізація відіграє ключову роль у сприйнятті. Крім того, «Вимірювання параметрів і випробування напівпровідникових приладів» може зацікавити тих, хто прагне поглибити свої знання про сучасні технології — Інтернет речей, штучний інтелект та інші високотехнологічні сфери, активно використовують напівпровідникові компоненти. Розуміння основ роботи цих пристроїв відкриває нові горизонти для творчості й інновацій у різних галузях. Якщо ви шукаєте книги з подібної тематики, зверніть увагу на «Фізику напівпровідників» або «Електроніку для початківців». Ці видання також допоможуть вам краще зрозуміти світ напівпровідників і їхнє застосування у сучасних технологіях. На завершення, «Вимірювання параметрів і випробування напівпровідникових приладів» — це не просто навчальний посібник, а справжня знахідка для тих, хто прагне розібратися в тонкощах напівпровідникової електроніки. Це книга, яка надихає на нові відкриття й експерименти, і водночас слугує надійним путівником у світі високих технологій. Не пропустіть можливість розширити свої знання й навички у цій захоплюючій і швидко розвиваючійся галузі!
LF/829209222/R

Характеристики

ФІО Автора
Коллектив авторов
Мова
Російська

Відгуки

Напишіть свій відгук

Вимірювання параметрів та випробування напівпровідникових приладів

Книга «Вимірювання параметрів і випробування напівпровідникових приладів», створена колективом авторів, є унікальним дослідженням, яке занурює читача у світ ...

Напишіть свій відгук

11 книг цього ж автора

Товари з цієї категорії: