Методи вимірювання параметрів напівпровідників і діелектриків. Розділ: Електрофізичні та фотоелектричні методи вимірювання

Методи вимірювання параметрів напівпровідників і діелектриків. Розділ: Електрофізичні та фотоелектричні методи вимірювання

book type
0 Відгук(ів) 
LF/417940589/R
Російська
В наявності
95,00 грн
85,50 грн Збережіть 10%
  Моментальне завантаження 

після оплати (24/7)

  Широкий вибір форматів 

(для всіх пристроїв)

  Повна версія книги 

(в т.ч. для Apple та Android)

Книга «№328 Методи вимірювання параметрів напівпровідників і діелектриків. Відділ: Електрофізичні та фотоелектричні методи вимірювань» авторів В. Б. Журавльова, Е. А. Ладыгіної, В. Н. Мартинова та Л. Г. Спиціної — це цінний посібник, що занурює читача у світ сучасних технологій і методів аналізу напівпровідникових та діелектричних матеріалів. Це видання буде особливо корисним для фахівців і студентів, що займаються фізикою, електронікою та матеріалознавством, а також для всіх, хто прагне зрозуміти, як працюють ключові компоненти сучасних електронних пристроїв. У книзі детально описуються різноманітні електрофізичні та фотоелектричні методи вимірювань, що дозволяють оцінювати параметри напівпровідників і діелектриків. Автори, маючи багатий досвід у цій галузі, діляться з читачами не лише теоретичними основами, а й практичними аспектами застосування цих методів. Вони пояснюють, як проводити вимірювання, які прилади використовувати та яких результатів можна очікувати, що робить цю книгу корисним посібником як для початківців, так і для досвідчених дослідників. Тематика книги охоплює широкий спектр питань, зокрема фізику напівпровідників, їх електричні властивості та методи точного вимірювання таких параметрів, як провідність, діелектрична проникність та інші важливі характеристики. Автори наголошують на тому, як ці параметри впливають на ефективність електронних пристроїв і систем, що робить цю книгу актуальною для інженерів і розробників у галузі мікро- та наноелектроніки. Стиль викладу авторів відзначається ясністю й доступністю, що полегшує засвоєння складних концепцій. Книга наповнена ілюстраціями, графіками й прикладами, що робить матеріал більш наглядним і зрозумілим. Це особливо важливо для студентів і молодих спеціалістів, які лише починають свій шлях у науці. Крім того, у тексті наведено посилання на актуальні дослідження й розробки, що дозволяє читачам бути в курсі останніх досягнень у галузі вимірювальних технологій. «№328 Методи вимірювання параметрів напівпровідників і діелектриків» буде цікавим не лише фахівцям, а й тим, хто прагне розширити свої знання у фізиці й електроніці. Це чудовий додаток до бібліотеки будь-якого інженера, фізика або студента, що вивчає сучасні технології. Ті, хто цікавиться такими книгами, як «Фізика напівпровідників» або «Електронні матеріали й технології», знайдуть у цій праці багато корисної інформації та нових ідей. Якщо ви шукаєте джерело знань про сучасні методи вимірювань у галузі напівпровідників і діелектриків, ця книга — саме те, що вам потрібно. Вона не лише поповнить ваш багаж знань, а й надихне на нові дослідження й відкриття. Не пропустіть можливість зануритися у захоплюючий світ електрофізичних і фотоелектричних методів, які формують майбутнє електроніки та матеріалознавства.
LF/417940589/R

Характеристики

ФІО Автора
В. Б.
В. Н.
Е. А.
Журавлев
Л. Г.
Ладыгин
Мартынов
Спицына
Мова
Російська
Дата виходу
1982

Відгуки

Напишіть свій відгук

Методи вимірювання параметрів напівпровідників і діелектриків. Розділ: Електрофізичні та фотоелектричні методи вимірювання

Книга «№328 Методи вимірювання параметрів напівпровідників і діелектриків. Відділ: Електрофізичні та фотоелектричні методи вимірювань» авторів В. Б. Журавльо...

Напишіть свій відгук

15 книг цього ж автора

Товари з цієї категорії: