Книга «Скануюча тунельна мікроскопія» авторів Кривелевич С. А. та Насонова М. О. — це унікальне й глибоке дослідження одного з найпередовіших методів мікроскопії, який широко застосовується в різних галузях науки й техніки. Це видання, випущене Ярославським державним університетом імені П. Г. Демидова, стане незамінним помічником для студентів, аспірантів і дослідників, що цікавляться фізикою, хімією, біологією та матеріалознавством. Скануюча тунельна мікроскопія (СТМ) — це метод, що дозволяє отримувати зображення поверхні на атомарному рівні, відкриваючи нові горизонти у вивченні матеріалів і біологічних об'єктів. У книзі детально описані принципи роботи СТМ, її пристрій і основні методи аналізу, що робить її ідеальним посібником як для новачків, так і для досвідчених фахівців. Автори діляться своїми знаннями та досвідом, пояснюючи, як правильно інтерпретувати отримані дані й використовувати їх для розв'язання практичних задач. Ця книга буде особливо цікава тим, хто захоплюється нанотехнологіями, фізикою твердого тіла, а також фахівцям у галузі матеріалознавства. Вона може стати чудовим доповненням до навчальних курсів з фізики й хімії, а також слугувати основою для наукових досліджень. Студенти й аспіранти знайдуть у ній не лише теоретичні основи, а й практичні поради щодо проведення експериментів і аналізу результатів. Тематика книги охоплює широкий спектр питань, зокрема фізичні основи скануючої тунельної мікроскопії, її застосування у різних галузях — нанотехнологіях, біології й матеріалознавстві. Автори акцентують увагу на важливості СТМ у сучасних наукових дослідженнях і її ролі у розвитку нових технологій. Також у книзі порушуються питання перспектив розвитку методу та його можливостей у майбутньому. Стиль викладу авторів ясний і доступний, що робить матеріал легким для сприйняття. Вони прагнуть донести складні наукові концепції ширшій аудиторії, уникаючи надмірно складної термінології й даючи читачеві змогу зануритися у тему без втрати інтересу. Це робить книгу не лише навчальним посібником, а й захоплюючим читанням для всіх, хто цікавиться наукою. Кривелевич С. А. і Насонова М. О. — відомі фахівці у галузі фізики й матеріалознавства, які вже зарекомендували себе у науковому співтоваристві. Їхні попередні роботи також присвячені різним аспектам мікроскопії та дослідженням матеріалів, що додає додаткової цінності їхнім новим дослідженням. Читачі, знайомі з їхніми попередніми публікаціями, знайдуть у цій книзі багато знайомих тем, поданих з нової точки зору. Якщо ви шукаєте книгу, яка допоможе вам глибше зрозуміти світ нанотехнологій і мікроскопії, «Скануюча тунельна мікроскопія» стане вашим надійним супутником у цьому захоплюючому подорожі. Вона не лише розширить ваші знання, а й надихне на нові ідеї й дослідження. Не пропустіть можливість доторкнутися до передових технологій і методів, що формують майбутнє науки й техніки.