Книга «Сканирующая туннельная микроскопия» авторов Кривелевич С. А. и Насонова М. О. представляет собой уникальное и глубокое исследование одного из самых передовых методов микроскопии, который находит широкое применение в различных областях науки и техники. Это издание, выпущенное Ярославским государственным университетом имени П. Г. Демидова, станет незаменимым помощником для студентов, аспирантов и исследователей, интересующихся физикой, химией, биологией и материалами. Сканирующая туннельная микроскопия (СТМ) — это метод, который позволяет получать изображения поверхности на атомном уровне, открывая новые горизонты в изучении материалов и биологических объектов. В книге подробно рассматриваются принципы работы СТМ, его устройство и основные методы анализа, что делает её идеальным руководством как для новичков, так и для опытных специалистов. Авторы делятся своими знаниями и опытом, объясняя, как правильно интерпретировать полученные данные и использовать их для решения практических задач. Эта книга будет особенно интересна тем, кто увлекается нанотехнологиями, физикой твердого тела, а также тем, кто работает в области материаловедения. Она может стать отличным дополнением к учебным курсам по физике и химии, а также послужить основой для научных исследований. Студенты и аспиранты найдут в ней не только теоретические основы, но и практические советы по проведению экспериментов и анализу результатов. Темы, поднятые в книге, охватывают широкий спектр вопросов, включая физические основы сканирующей туннельной микроскопии, её применение в различных областях, таких как нанотехнологии, биология и материаловедение. Авторы акцентируют внимание на важности СТМ в современных научных исследованиях и его роли в развитии новых технологий. Книга также затрагивает вопросы, связанные с перспективами развития метода и его возможностями в будущем. Стиль авторов отличается ясностью и доступностью изложения, что делает материал легким для восприятия. Они стремятся донести сложные научные концепции до широкой аудитории, избегая излишне сложной терминологии и предоставляя читателю возможность погрузиться в тему, не теряя при этом интереса. Это делает книгу не только учебным пособием, но и увлекательным чтением для всех, кто интересуется наукой. Кривелевич С. А. и Насонова М. О. — известные специалисты в области физики и материаловедения, которые уже успели зарекомендовать себя в научном сообществе. Их предыдущие работы также посвящены различным аспектам микроскопии и материаловедения, что добавляет дополнительную ценность к их новым исследованиям. Читатели, знакомые с их предыдущими публикациями, найдут в этой книге много знакомых тем, но поданными с новой точки зрения. Если вы ищете книгу, которая поможет вам глубже понять мир нанотехнологий и микроскопии, «Сканирующая туннельная микроскопия» станет вашим надежным спутником в этом увлекательном путешествии. Она не только расширит ваши знания, но и вдохновит на новые идеи и исследования. Не упустите возможность прикоснуться к передовым технологиям и методам, которые формируют будущее науки и техники.