М.: Машинобудування, 2008. — 184 стор. У книзі розглядаються теоретичні й методологічні засади обробки інформації в оптико-електронних системах інфрачервоного (ІК) діапазону хвиль на основі детермінованих чисельних моделей. Вони призначені для обробки ІК-зображень прихованих підповерхневих об’єктів та технічного діагностування теплоізоляційних матеріалів за принципами обчислювальної теплофізики. Представлено різноманітні спеціалізовані пристрої для обробки вимірювальної інформації, засоби технічного діагностування теплоізоляційних матеріалів, а також оптико-електронну систему ідентифікації теплових властивостей і глибини залягання прихованих підповерхневих об’єктів. Книга стане у пригоді аспірантам, ад’юнктам і фахівцям у галузі обчислювальної математики, математичного моделювання, теплофізики та обробки ІК-зображень.