– М.: Машиностроение, 2008. – 184 с.Рассмотрены теоретические и методологические основы обработки информации в оптико-электронных системах инфракрасного (ИК) диапазона волн на основе детерминированных численных моделей, предназначенных для обработки ИК-изображений скрытых подповерхностных объектов и технического диагностирования теплоизоляционных материалов на основе принципов вычислительной теплофизики. Представлены различные специализированные устройства обработки измерительной информации, средство технического диагностирования теплоизоляционных материалов, а также оптикоэлектронная система идентификации тепловых свойств и глубины залегания скрытых подповерхностных объектов.Для аспирантов, адъюнктов и специалистов по вычислительной математике и математическому моделированию в области теплофизики и обработки ИК-изображений.