Дефекты в кремнии и на его поверхности

после оплаты (24/7)
(для всех устройств)
(в т.ч. для Apple и Android)
Рассмотрены процессы образования дефектов в кристаллическом кремнии. Дан анализ микроструктуры дефектов, приведены сведения об энергетическом спектре локальных электронных состояний, связанных с различными типами дефектов в объеме и на поверхности кристаллов кремния. Рассказано о процессах миграции дефектов, их взаимодействиях друг с другом я с примесями. Для физиков и инженеров, занятых фундаментальными исследованиями и решением практических задач современной "кремниевой" микроэлектроники, а также для студентов старших курсов соответствующих специальностей.
LF/9688759/R
Характеристики
- ФИО Автора
- Вавилов
Киселев
Мукашев. - Язык
- Русский
- Серия
- Физика полупроводников и полупроводниковых приборов, ФПИПП
- ISBN
- 9785020140233
- Дата выхода
- 1990