У книзі під редакцією відомих учених зібрано статті та огляди провідних фахівців у галузі нанотехнологій, присвячені растровій електронній мікроскопії (РЕМ). За допомогою РЕМ можна досліджувати властивості наночастинок, нанопроволок, нанотрубок, тривимірних наноструктур, квантових точок, магнітних наноматеріалів, фотонних кристалів та біологічних наноструктур. Розглядаються різні типи РЕМ, зокрема високороздільні просвітлювальні мікроскопи, рентгенівський мікроаналіз, сучасні методи отримання зображень за допомогою відбитих електронів, а також методи електронної кріомікроскопії для дослідження біологічних об’єктів. Книга розрахована на широкий коло практичних спеціалістів у сфері нанотехнологій, але буде корисною також студентам вищих навчальних закладів і розробникам нових типів растрових електронних мікроскопів.