Сергеєв, В. А. Дослідження мікро- та наноструктур методами скануючої зондової мікроскопії. У 2 ч. Ч. 1: методичні вказівки

після оплати (24/7)
(для всіх пристроїв)
(в т.ч. для Apple та Android)
Книга «Дослідження мікро- та наноструктур методами скануючого зондового мікроскопування. Частина 1» під редакцією Сергія А. Сергєєва та колективу авторів — унікальне видання, яке занурює читача у світ сучасних технологій і методів дослідження на наноурівні. Це важливий внесок у галузі матеріалознавства й фізики, що пропонує глибоке розуміння сучасних методів скануючого зондового мікроскопування (СЗМ), які стають усе більш актуальними в наукових дослідженнях і промисловості. Книга адресована як фахівцям, що працюють у сфері нанотехнологій, так і студентам, аспірантам та всім, хто цікавиться мікроскопією та її застосуваннями у науці й техніці. Якщо ви шукаєте інформацію про те, як досліджувати мікро- і наноструктури за допомогою сучасних методів, ця праця стане незамінним помічником. Вона буде цікава фізикам, хімікам та інженерам, що займаються розробкою нових матеріалів і технологій. У першій частині автори докладно розглядають методичні рекомендації, які допоможуть освоїти основні принципи роботи зі скануючими зондовими мікроскопами. Тут ви знайдете не лише теоретичні основи, а й практичні поради, що допоможуть уникнути поширених помилок під час проведення експериментів. У книзі описано різні типи зондових пристроїв, їх застосування та особливості роботи з ними, а також детальні інструкції щодо підготовки зразків і інтерпретації отриманих даних. Тематика книги охоплює широкий спектр питань, пов’язаних із дослідженням матеріалів на наноурівні. Автори обговорюють, як методи СЗМ можна використовувати для вивчення структури й властивостей матеріалів, а також для аналізу їх поверхні. Це особливо актуально в контексті сучасних тенденцій науки, де розуміння наноразмірних ефектів є ключовим для створення нових технологій, таких як наноелектроніка, біомедичні пристрої та багато інших. Стиль Сергія А. Сергєєва та його команди відзначається ясністю й доступністю, що робить складні наукові концепції зрозумілими для широкої аудиторії. Це видання не лише інформативне, а й захоплююче, що дозволяє читачеві не просто ознайомитися з матеріалом, а й справді зануритися у вивчення теми. Книга стане чудовим доповненням до бібліотеки будь-якого дослідника у галузі матеріалознавства, фізики чи хімії. Крім того, варто зазначити, що ця книга — перша частина двотомного видання, що передбачає продовження, у якому розглядаються більш складні аспекти та нові досягнення у сфері скануючого зондового мікроскопування. Це створює додатковий інтерес для тих, хто прагне поглибити свої знання й навички у цій галузі. Якщо ви шукаєте книги з тематики наноструктур, скануючого зондового мікроскопування або матеріалознавства, «Дослідження мікро- та наноструктур методами скануючого зондового мікроскопування» стане для вас справжньою знахідкою. Це видання не лише збагатить ваші знання, а й надихне на нові дослідження та відкриття у захоплюючому світі наноразмірних технологій.
LF/978183666/R
Характеристики
- ФІО Автора
- Коллектив авторов
- Мова
- Російська