М.: Наука, 1983. - 320 с.Книга известных зарубежных ученых Г. Томаса и М.Дж. Горинджа посвящена исследованию материалов методом просвечивающей электронной микроскопии. На основе новейших экспериментальных и теоретических данных изложены физические основы электронной микроскопии и дифракции электронов, теории контраста и динамической теории дифракции в применении к исследованию различных материалов, данные о реальной структуре кристаллов и материалов на уровне атомного разрешения. Рассмотрены многочисленные примеры подобных исследований.Для научных работников, аспирантов и студентов старших курсов вузов, интересующихся электронной микроскопией и материаловедением.